產(chǎn)品時間:2022-06-09
賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF) 窗超高通量RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測器,全數(shù)字化譜分析器 32bit 4096通道,高穩(wěn)定性:RSD<0.3% 8小時,檢測元素:F~U
賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF)儀器介紹
*端窗超高通量RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻
*的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測器
*賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF)擁有全數(shù)字化譜分析器 32bit 4096通道
*高穩(wěn)定性:RSD<0.3% 8小時
*檢測元素:F~U
技術(shù)參數(shù)
樣品室:樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)
增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm
單位盤 樣品可大至樣品室大小
10位盤(選購件) 帶自轉(zhuǎn)機構(gòu),樣品可大至47mm
20位盤(選購件) 樣品可大至31mm
自動和手動盤 為特種樣品的樣品盤,選購件
環(huán)境 空氣、真空(選購件)和充氦(選購件)
激發(fā)(核心元件):
X-光管:超高通量,端窗,RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻,其它靶可選
X-光發(fā)生器 4-50KV,1KV間隔。O.02-2.OmA,0.02mA 間隔
濾光片 7種濾光片加1空位,自動選擇
準(zhǔn)直器(選購件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種
X射線檢測配置器(核心元件)
類型:Si(Li)硅鋰
晶體面積:
Si(Li)面積15mm²,分辨率<155 eV
Si(Li)LN Si(Li)面積30mm²,分辨率<149 eV
晶體厚度: 3.5mm
檢測元素:F~U
制冷方式:電致冷/液氮致冷
穩(wěn)定性:RSD<0.3% 8小時
靈敏度:Fe, Pb <3pmm(油)
再現(xiàn)性:RSD<0.3%/1x10負(fù)6次方計數(shù)
譜處理器(核心元件)
處理器類型:全數(shù)字話 32bit 3 DSP
譜通道:2048 20eV/通道
修正時間:1~40ms, 用戶選擇
計數(shù)率:>100,000cps (live)
能量范圍:400~4096eV
死時間影響:<3.0%
重疊校正:<0.3%
能量校正:軟件自動
尺寸和重量
外形尺寸 寬71.88cm,高41.15cm,深59.18cm
重量 90.7kg
使用要求
電源 100、115或230VAC,50或60hz,功率1000W,真空泵需2000W
遙控診斷和遙控監(jiān)測需要通過因特網(wǎng)連線
環(huán)境要求
溫度 O~32℃
濕度 20~80%RH(無冷凝水)
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