梅特勒XP超越系列分析天平是分析天平領(lǐng)域中的又一里程碑。顛覆性的創(chuàng)新設(shè)計(jì)帶來(lái)了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數(shù)據(jù)管理的安全性設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。
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